DFT可测试性设计

DFT可测试性设计

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课程背景：

测试是产品从研发走向生产的必经阶段,也是决定产品质量的重要环节,如何将测试工作开展的更全面、更仔细、更专业完善也是众多电子通信企业所追求的目标。建立可测试性设计是开发软硬件系统的关键，尤其是那些对工作可靠性要求高的系统， 若没有可测试性设计，在产品正式使用之前就很难发现设计缺陷，而且工作中出现的故障也很难检测和诊断。 采用可测试性设计可以增加系统的可测试性，提高产品质量，并减少产品投放市场的时间及测试费用。

培训收益：

本课程介绍了业界先进的可测性设计的方法和实践经验，结合业界知名公司的成功实践经验和案例，采用模板演示讲解和案例讨论的方式，具体讲述了可测性设计的方法和具体实践经验、操作技巧以及IT工具，着重于提高学员的产品测试实践技能，注重课程的实操性，能有效地借鉴和快速地应用到实际工作中去。

学完本课程后，学员可获得：

1.深刻理解可测性设计(DFT)的基本思想和基本原理

2.熟悉可测性设计(DFT)的基本业务流程

3.全面掌握可测性设计(DFT)的设计方法

4.有效构建可测性设计(DFT)的体系平台

参加对象 ：

研发总监、系统工程师、研发经理、测试经理、制造技术经理、新产品导入(NPI)经理及骨干工程师等

课程介绍：

1、可测试性设计概述

1.1、产品全生命周期面临的测试问题

1.2、产品全生命周期的测试V模型结构。

1.3、可测性设计的准确定义及基本概念。

1.4、可测性设计的物理特征表述。

1.5、可测性的测度表现形式。

1.6、可测性的质量、成本和效益分析。

1.7、可测性设计的基本要素。

1.8、基于并行工程的可测性设计体系结构。

1.9、可测性设计的基本过程和方法。

1.10、可测性设计的常用缩略语和术语。

1.11、本章案例研讨分析。

2、可测性设计的需求分析

2.1、单板软件可测性设计需求分析。

2.2、单板硬件可测性设计需求分析。

2.3、整机系统验证可测性设计需求分析。

2.5、单板生产可测性设计需求分析。

2.6、系统维修、维护可测性设计需求分析。

2.7、单板、整机老化的可测性设计需求。

2.8、边界扫描应用的可测性设计需求分析。

2.9、软件加载的可测性设计需求分析。

2.10、本章案例研讨分析。

3、可测性设计的基本原理和方法

3.1、测试控制物理通道的选择。

3.2、外部测试命令集的构建。

3.3、测试过程的控制和管理。

3.4、测试信息的存储和打印。

3.5、外接仪器输入/出接口设计。

3.6、测试数据源的自动生成。

3.7、故障数据源的自动生成。

3.8、容限、极限业务数据源生成。

3.9、测试数据源的设计与启动。

3.10、故障诊断树的设计。

3.11、本章案例研讨分析。

4、可测试性设计的组织和角色

4.1、可测性设计的组织和角色。

4.2、可测性设计需求基线。

4.3、可测性设计操作指导书。

4.4、可测性设计实现规范。

4.5、可测性设计评审规范和查检表。

4.6、可测性设计流程和模板。

4.7、可测性设计在公司推广中的障碍。

4.7、讨论

程老师

资深顾问，资深讲师,研发工程技术产线总监

APECG测试工程首席专家

中国电子协会ATE测试分会会员.

◆主讲品牌课程

硬件测试管理

DFT可测试性设计

硬件开发管理

◆工作经验：

华为公司从事通讯产品可测试设计的研究及开发工作，曾参与大型程控交换机、光通信产品、会议电视系统项目的可测试及可制造性工程实施，历任华为中央硬件研发平台部开发经理，兆天网络中试部经理。

◆工作专长：

测试工程、工艺工程、硬件工程。

◆项目实践：

曾作为兆天网络、UT斯达康、迈瑞、核达中远通、飞通光电、桑达龙金可测性工程咨询首席顾问，具体包括在研发体系中如何通过可测性工程实施来提高产品可测试性。

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